CT-4微電腦型電解式膜厚計

CT-4微電腦型電解式膜厚計為舊機型CT-2改良而成,具中文及日文等顯示操作畫面。微電腦處理器具備自我診斷機能,採用中文化對話設定模式,多達50種測定條件登錄及細微感度調整等,對於絕大多數的電鍍層都適合使用,另外,備有選購的線材測試器,對於線材或細小部件皆可應用;加裝記錄器時,則可進行多重鎳厚度分析。

型號
CT-4
測定方式
庫倫測量法
測定對象
鉻、鎳、銅、鋅、金、銀、錫、鎘、銦、鉛、鈷、化學鎳、雙重鎳、三重鎳、黑鉻、錫鋅合金、錫鉛合金、銅鋅合金、鎳鈷合金、鎳鐵合金等
測定範圍
0.006~300um
最小顯示
0.001um
測量面積
A測頭∮3.4mm、B測頭∮2.4mm、C測頭∮1.7mm
本體精度
± 1%
電解速率
0.125um/s、0.0125um/s、0.00125um/s
測量頻道
具50組測量頻道登錄容量
鍍層測量
最多可設定5層,並可分別統計計算
測量單位
um、nm、mg(g/㎡)
外部輸出
RS-232C傳輸埠
電源
AC110V(50/60Hz)
尺寸重量
287(W)x302(D)x181(H)mm,5.8kg
符合規範
JIS H8501、JIS H8610-8619、ASTM B504-82、MIL、ISO 2177、DIN 50932、DIN 50955等
附屬品
專利測定台、專用印表機、校正標準板1片、空氣攪拌管、A/B不鏽鋼電解槽、A/B/C橡膠測頭、電解液100ml、清潔液100ml、操作手冊等
選購附件
線材測試器WT、記錄器、電解液500ml/瓶、校正標準板